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CS3400LVV 扫描电子显微镜：法庭科学实验室专用分析设备

产品概述
CS3400LVV 是一款专为法庭科学实验室设计与配置的扫描电子显微镜（SEM）。该设备集成了大样品室、高精度样品台、先进的电子光学系统及针对法证分析优化的软件与附件接口，旨在为微量物证、枪弹痕迹、文件检验及生物物证等领域提供高分辨率的显微形貌观察与微区成分分析能力。

一、技术特点与系统配置

1. 电子光学系统与成像性能：

   • 设备具备从 3倍到60万倍 的宽范围连续变倍能力，其电子光学设计兼顾了高分辨率成像与低倍率下的图像保真度，确保在低倍观察时图像无明显畸变，利于快速定位和全景观察。

   • 配备几何位置可调的二次电子探测器，有助于优化图像衬度与质量。

2. 大尺寸样品室与高兼容性：

   • 样品室内部空间充裕，标准配置尺寸约为宽315mm x 深415mm x 高315mm，可容纳尺寸较大或不规则的物证。

   • 样品室设计有超过16个标准化附件接口，支持同时安装多个探测器（如能谱仪EDS、波谱仪WDS）。安装波谱仪后，可具备与电子探针相当甚至更优的微区成分定量分析能力。

   • 样品室侧壁设有观察窗，并可选装集成光学显微镜，便于快速进行初始定位。

3. 高精度自动化样品台：

   • 采用优中心马达驱动样品台，标准移动范围为X轴100mm，Y轴150mm。

   • 单步移动精度可达≤0.2微米，结合软件可实现大范围内高精度的点位定位与线面分析，满足对痕迹特征（如弹头膛线、工具划痕）进行系统检验的需求。

4. 低真空操作模式：

   • 除了高真空模式，设备支持1至300帕斯卡的低真空模式，并可选配三种不同气体环境。此模式允许对不导电或含水的样品（如某些生物检材、纤维、泥土）在不喷涂导电层的条件下直接进行观察，避免样品破坏。

二、软件、操作与显示系统

• 操作软件：运行独特的CamScan Helios专业控制软件，图形化界面集成了图像采集、设备控制与分析功能，旨在简化操作流程。

• 控制方式：支持完全的计算机鼠标控制，并可配合Delta Pad手动操作单元进行辅助操作，以兼顾自动化效率和手动微调的需求。

• 显示系统：标配双18英寸高分辨率液晶显示器，便于同时显示控制界面、实时图像或分析结果。

三、物理设计与环境适应性

• 稳定性设计：设备采用超静音设计，并装有配备自动水平传感器的气垫减震装置，以隔离环境震动，保障在常规办公实验室环境下也能获得稳定的高分辨率图像。

• 光源选择：电子枪光源可选配传统的钨灯丝、亮度更高的六硼化镧或场发射电子源，用户可根据对分辨率、亮度及使用成本的具体需求进行选择。

四、主要应用领域
本设备作为法庭科学实验室的核心大型分析仪器，主要应用于：

• 微量物证分析：观察纤维、油漆、玻璃、金属碎屑等的微观形貌与元素成分。

• 枪弹痕迹检验：高精度检验弹头、弹壳上的击发痕迹，进行比对分析。

• 文件检验：分析墨水、纸张纤维、印章及涂改痕迹的微观特征。

• 法医生物学：在低真空模式下观察毛发、植物孢子、昆虫等物证。